مخفف AFM
Atomic Force Microscope
18
مانند تمام میکروسکوپهای پراب پویشی دیگر، از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت میکند، استفاده میکند.
مانند تمام میکروسکوپهای پراب پویشی دیگر، از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت میکند، استفاده میکند.