مخفف AFM
Atomic Force Microscope
18
میکروسکوپ نیروی اتمی یا میکروسکوپ نیروی پویشی در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنینگ و گربر اختراع شد.
مانند تمام میکروسکوپ‌های پراب پویشی دیگر، از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت می‌کند، استفاده می‌کند.
ارسال نظرمانند تمام میکروسکوپ‌های پراب پویشی دیگر، از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت می‌کند، استفاده می‌کند.