مخفف SASM
Super resolution Aperture Scanning Microscope
19
مطالعه مواد و ساختارها در اندازههای میکرو و نانو نیاز به میکروسکوپهای با قدرت تفکیک بالا دارد، که به دلیل محدودیت پراش حاکم بر میکروسکوپهای کلاسیک که در آن از عدسیها استفاده میشود، دستیابی به این تفکیک با استفاده از این نسل از میکروسکوپها امکان پذیر نیست. در راستای دستیابی به این هدف میکروسکوپهای روبشی – پیمایشی ساخته شدند، که در آنها با بررسی نقطه به نقطه جسم و یا سطح مورد نظر و جمع آوری اطلاعات آنها و تحلیل این دادهها میتوان به مورفولوژی و خواص سطح نمونه مورد نظر دست یافت. ارسال نظر